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奧林巴斯OLYMPUS 3D測量激光共聚焦顯微鏡OLS5000

價(jià)格
電議

型號
OLS5000

品牌
奧林巴斯

所在地
浙江省 杭州市

更新時(shí)間
2021-10-19 15:38:01

瀏覽次數(shù)

    奧林巴斯OLYMPUS 3D測量激光共聚焦顯微鏡OLS5000


    OLS5000作為3D測量顯微鏡有著更真實(shí)的三維形貌反映能力,具有操作更便捷、更快速的優(yōu)勢。OLS5000采用計(jì)算機(jī)直觀控制,搭載的掃描算法,可通過計(jì)算機(jī)的處理轉(zhuǎn)換,快速獲得完整帶有高度信息的樣品表面圖像,并通過對樣品不同層面的掃描和計(jì)算機(jī)處理。在使用時(shí),只要在放置樣品后按動(dòng)按鈕,設(shè)備就會(huì)自動(dòng)進(jìn)行工作,無需進(jìn)行復(fù)雜的設(shè)置調(diào)整,即使是不熟練的用戶也可獲準(zhǔn)確的檢測結(jié)果,簡化工作流程。   


    一直以來,奧林巴斯致力于滿足各領(lǐng)域用戶的多樣需求,不斷行業(yè)發(fā)展趨勢,通過不斷研發(fā)新產(chǎn)品,順應(yīng)市場變化,在工業(yè)顯微鏡領(lǐng)域始終保持著技術(shù)優(yōu)勢。3D測量激光顯微鏡在全球已經(jīng)是一種被廣泛采用的技術(shù)。  


    隨著物聯(lián)網(wǎng)、云科技、新能源汽車的發(fā)展需求,半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)飛速發(fā)展。針對這一趨勢,奧林巴斯陸續(xù)推出BX系列、STM系列、MX系列產(chǎn)品,與這次發(fā)布會(huì)的激光顯微鏡構(gòu)成了針對半導(dǎo)體前后道檢測市場的較為完善的產(chǎn)品線。OLS5000目標(biāo)市場從研發(fā)、質(zhì)檢為主的研究級擴(kuò)展到涵蓋生產(chǎn)線的制造級市場。從行業(yè)應(yīng)用方向來說,半導(dǎo)體/電子、機(jī)械重工設(shè)備、石油質(zhì)地都是該產(chǎn)品目標(biāo)市場。同時(shí),新產(chǎn)品在汽車行業(yè)還會(huì)有更多突破。


    激光共聚焦掃描顯微鏡的發(fā)展在國外是從80年代末期開始的,目前在日本,已經(jīng)是一種被廣泛采用的技術(shù),既用來觀察樣品表面亞μm程度(0.2μm)的三維形態(tài)和形貌,又可以測量多種微小的尺寸,諸如體積、面積、晶粒、膜厚、深度、長寬、線粗糙度、面粗糙度等。

    LEXT OLS5000 3D測量激光共聚焦顯微鏡配備的兩套光學(xué)系統(tǒng)(彩色成像光學(xué)系統(tǒng)和激光共焦光學(xué)系統(tǒng))讓其能夠獲取彩色信息、高度信息和高分辨率圖像。

    OLS5000激光共聚焦顯微鏡可以地測量亞微米級的表面形狀和粗糙度。圖像采集速度比我們之前的型號OLS4100快四倍,大大提高了效率。


    1. 捕捉任意表面形狀。

    2. 快速獲得可靠數(shù)據(jù)。

    3. 操作簡單

    只需放置樣
    品并按一下按鈕即可。

    4.測量具有挑戰(zhàn)性的樣品



    [獲取彩色信息]
    彩色成像光學(xué)系統(tǒng)使用利用白光LED光源和CMOS相機(jī)獲取彩色信息。

    [獲取 3D 高度信息和高分辨率共焦圖像]
    激光共焦光學(xué)系統(tǒng)采用405納米激光二極管光源和高靈敏度光電倍增管獲得共焦圖像。淺焦深使其能夠用于測量樣品的表面不規(guī)則性。



    [405納米激光光源]

    光學(xué)顯微鏡的橫向分辨率隨著波長的減小而獲得提升。采用短波長激光的激光顯微鏡相比采用可見光(峰值550納米)的傳統(tǒng)顯微鏡具有更優(yōu)的橫向分辨率。 OLS5000顯微鏡利用405納米短波長激光二極管獲得的橫向分辨率。


    [激光共焦光學(xué)系統(tǒng)]

    激光共焦光學(xué)系統(tǒng)僅接收通過圓形針孔聚焦的光線,并非采集從樣品上反射和散射的所有光線。這樣有助于消除模糊,讓其能夠獲得比普通顯微鏡對比度更高的圖像。



    [X-Y掃描儀]
    OLS5000顯微鏡配有奧林巴斯光學(xué)掃描儀。通過將采用電磁感應(yīng)MEMS諧振掃描儀的X軸與采用Galvano掃描振鏡的Y軸相結(jié)合,能夠讓X-Y掃描儀定位于相對物鏡瞳鏡共軛的位置,因而能夠?qū)崿F(xiàn)具有較低掃描軌跡失真和較小光學(xué)像差的X-Y掃描。



    [高度測量原理]

    在測量高度時(shí),顯微鏡通過自動(dòng)移動(dòng)焦點(diǎn)位置獲取多個(gè)共焦圖像。
    根據(jù)非連續(xù)的焦點(diǎn)位置(Z)和檢測光強(qiáng)度(I)可以估算每個(gè)像素的光強(qiáng)變化曲線(I-Z曲線),并獲得其峰值位置和峰值強(qiáng)度。由于所有像素的峰值位置與樣品表面的不規(guī)則性相對應(yīng),因此可以獲得樣品表面的3D形狀信息。與此類似,通過峰值強(qiáng)度數(shù)據(jù)可以獲得針對樣品表面所有位置焦點(diǎn)的圖像(擴(kuò)展圖像)。




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