價(jià)格
電議
型號(hào)
XAU-4C
品牌
一六儀器
所在地
廣東省 深圳市
更新時(shí)間
2023-01-11 02:33:01
瀏覽次數(shù)
次
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X熒光測硫儀產(chǎn)品介紹
X熒光測硫儀由深圳市美程精密電子有限公司現(xiàn)貨銷售X熒光測硫儀,XAU系列熒光光譜儀是一機(jī)多用型光譜儀,應(yīng)用了核心EFP算法和微光聚集技術(shù),既保留了測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚的性能,又可滿足微區(qū)ROHS檢測及成分分析。
性能優(yōu)勢:
1.微小樣品檢測:*小測量面積0.03mm2(加長測量時(shí)間可小至0.01mm2)
2.變焦裝置算法:可改變測量距離測量凹凸異形樣品,變焦距離可達(dá)0-30mm
3.*的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂鍍層,多層多元 素,甚至有同種元素在不同層也可*測量。
4.*的解譜技術(shù):減少能量相近元素的干擾,降低檢出限。
5.高性能探測器:SDD硅漂移窗口面積25mm2探測器。
6.X射線裝置:微焦加強(qiáng)型射線管搭配聚焦裝置。
一六儀器研制的測厚儀的光路交換裝置,讓X射線和可見光攝像同一垂直線,達(dá)到視覺與測試定位一體,且X光擴(kuò)散度?。慌cEFP軟件配合達(dá)到對(duì)焦、變焦雙焦功能,實(shí)現(xiàn)高低、凹凸不平各種形狀樣品的測試;高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍,可以減少弧度傾斜放樣帶來的誤差,同時(shí)特征X射線可以穿透測試更厚的表層。
*的EFP算法
*的研發(fā)團(tuán)隊(duì)在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上,計(jì)算樣品中每個(gè)元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強(qiáng)效應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法,結(jié)合*的光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),只需要少量的標(biāo)樣來校正儀器因子,可測試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。
X射線熒光檢測儀報(bào)價(jià):/1632839249