溫控器熔斷測(cè)試裝置
1.本設(shè)備為突跳式、膨脹式溫控器及熔斷器自動(dòng)溫度特性試驗(yàn)而專門設(shè)計(jì),可對(duì)溫控器及熔斷路器進(jìn)行斷開(kāi)溫度和閉合溫度檢測(cè),檢測(cè)數(shù)據(jù)通過(guò)可編程控制器系統(tǒng)處理,自動(dòng)記錄動(dòng)作溫度值。
2. 試驗(yàn)工位:3個(gè),可自由選擇測(cè)試數(shù)量;
3. 測(cè)試箱溫度控制范圍:30℃~150℃;
4. 測(cè)試區(qū)升、降溫速率:50℃/min
5. 測(cè)試箱內(nèi)溫度分布均勻度:±0.3℃;
6. 測(cè)試箱溫度波動(dòng)度:±3℃;
7、每工位可單獨(dú)控制、獨(dú)立計(jì)數(shù)
8. 溫度傳感器:PT100;
9. 采用進(jìn)口PLC和觸摸屏實(shí)現(xiàn)設(shè)定、控制和顯示,進(jìn)口加熱元件。
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溫控器熔斷測(cè)試裝置
1.本設(shè)備為突跳式、膨脹式溫控器及熔斷器自動(dòng)溫度特性試驗(yàn)而專門設(shè)計(jì),可對(duì)溫控器及熔斷路器進(jìn)行斷開(kāi)溫度和閉合溫度檢測(cè),檢測(cè)數(shù)據(jù)通過(guò)可編程控制器系統(tǒng)處理,自動(dòng)記錄動(dòng)作溫度值。
2. 試驗(yàn)工位:3個(gè),可自由選擇測(cè)試數(shù)量;
3. 測(cè)試箱溫度控制范圍:30℃~150℃;
4. 測(cè)試區(qū)升、降溫速率:50℃/min
5. 測(cè)試箱內(nèi)溫度分布均勻度:±0.3℃;
6. 測(cè)試箱溫度波動(dòng)度:±3℃;
7、每工位可單獨(dú)控制、獨(dú)立計(jì)數(shù)
8. 溫度傳感器:PT100;
9. 采用進(jìn)口PLC和觸摸屏實(shí)現(xiàn)設(shè)定、控制和顯示,進(jìn)口加熱元件。