原子力顯微鏡

Nators開發(fā)SEM兼容的原子力顯微鏡系統(tǒng)可提供在SEM或FIB內(nèi)進(jìn)行原位三維形貌掃描和納米壓痕功能。該系統(tǒng)可兼容大部分SEM或FIB系統(tǒng)，包括桌面型SEM。

產(chǎn)品特點：

· 納米級三維形貌掃描成像分辨率

· 亞納牛力納米壓痕分辨率

· 結(jié)構(gòu)緊湊、優(yōu)異的SEM/FIB兼容性

· 可根據(jù)用戶具體需求提供定制化解決方案

產(chǎn)品應(yīng)用：

· AFM-SEM綜合成像分析（結(jié)合AFM功能與SEM分析技術(shù)，例如EDX、EBSD）

· 納米材料力學(xué)分析

規(guī)格參數(shù)