——世界上*的納米力學(xué)和納米摩擦學(xué)測試系統(tǒng)，加速納米力學(xué)研究進(jìn)入更高階段。

布魯克的海思創(chuàng)TI 980 TriboIndenter同時(shí)具有*的性能、靈活性、可信度、實(shí)用性和速度?；诤Ｋ紕?chuàng)幾十年的技術(shù)創(chuàng)新，它為納米力學(xué)表征帶來了更高水平的性能、功能和易用性。TI 980達(dá)到了一臺優(yōu)異納米力學(xué)測試儀器所需的所有要求，實(shí)現(xiàn)了控制上突出的*性和高效性，試驗(yàn)上的靈活度與可實(shí)現(xiàn)性，測量穩(wěn)定性，以及系統(tǒng)設(shè)計(jì)的模塊化。

*的Performech^® II控制模塊和電子設(shè)計(jì)

*性能的高速閉環(huán)控制業(yè)界*的噪音控制

集成的帶輸入/輸出信號的多參數(shù)控制五百倍于前代產(chǎn)品的力學(xué)測試速度

多維度測量耦合

充分優(yōu)化各個(gè)傳感器的特質(zhì)適用不同測量需要，通過多維傳感器的選擇實(shí)現(xiàn)

不同測量間的無縫耦合多種有效的測試模塊配置，包括納米/微米壓痕、納米劃痕、納米摩擦磨損、高分辨原位掃描探針顯微鏡成像、動態(tài)納米壓痕和高速力學(xué)性能成像等。

豐富的系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)分析軟件

TriboScan(^TM) 10提供了創(chuàng)新性的控制功能，包括XPM快納米壓痕，SPM+原位掃描探針顯微鏡成像，動態(tài)表面搜索，全自動系統(tǒng)校準(zhǔn)和創(chuàng)新的測試程序。

Tribo iQ (^TM)提供了強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理、分析和畫圖功能，并具有可編程數(shù)據(jù)分析模塊和自動生成的定制測試報(bào)告功能。

極大的靈活性和具有前瞻性的表征潛質(zhì)

布魯克納米壓痕儀Ti 980提供了多級別的防護(hù)罩提供了強(qiáng)環(huán)境隔絕能力，并具有用于將來的升級可擴(kuò)展接口樣品臺提供了機(jī)械、磁性和真空固定方式，適用于各種樣品。

始終處于材料研究和開發(fā)的*前沿

海思創(chuàng)從1992年起就在全球范圍內(nèi)處于納米力學(xué)和納米摩擦學(xué)表征的*位置。通過與研究人員和工程師的持續(xù)合作，布魯克理解您的需求，通過創(chuàng)新的技術(shù)幫助您解決當(dāng)下和將來面臨的材料挑戰(zhàn)。海思創(chuàng)TI 980 TriboIndenter是這些努力的集大成者。它提供了*的性能，能滿足您持續(xù)更新的材料表征需求。

簡潔、高速的自動控制——系統(tǒng)自動校正使得每次測試都無懈可擊

針尖面積函數(shù)自動校正

傳感器自動校正

壓針和光學(xué)系統(tǒng)校正

自動測試程序

快速、多樣品自動測試功能實(shí)現(xiàn)高通量表征

智能化自動程序確保用戶選擇合適的針尖

高分辨多尺度成像結(jié)合全尺寸樣品的光學(xué)搜索，極大簡化測試流程

*低的噪音水平，實(shí)現(xiàn)真正納米尺度表征

從微米到幾個(gè)納米的多尺度測量納牛級別的力噪音水平和小于90%原子直徑的位移測量能力，實(shí)現(xiàn)幾乎任何材料的定量表征

系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)過6個(gè)數(shù)量級的力測量和10個(gè)數(shù)量級的位移測量

力和位移噪音水平保證在客戶現(xiàn)場安裝時(shí)實(shí)現(xiàn)

*快的反饋控制速率

布魯克納米壓痕儀Ti 980控制測試過程實(shí)現(xiàn)*精度、可信度和重復(fù)性的真正定量納米力學(xué)和納米摩擦學(xué)表征特殊的力和位移反饋控制方法用于海思創(chuàng)的傳感器-專門針對海思創(chuàng)傳感器物理特性開發(fā)的力與位移反饋控制算法每隔0.013毫秒實(shí)現(xiàn)一次完整反饋控制，使得系統(tǒng)能測量快速瞬態(tài)過程，并對其作出反饋，真正實(shí)現(xiàn)用戶的測試意圖-每隔0.013毫秒實(shí)現(xiàn)一次完整的感知-分析-控制的循環(huán)，使得系統(tǒng)能對瞬態(tài)過程進(jìn)行測量與反饋，以此重現(xiàn)用戶定義的測試方式

強(qiáng)大的測試模塊配置，*化您的表征潛能

自下而上的*設(shè)計(jì)提供了世界總線 xian jin的納米力學(xué)測試系統(tǒng)

實(shí)現(xiàn)*豐富的潛在測試能力

Performech®  II高級控制模塊

控制納米力學(xué)測試過程

業(yè)界*的力和位移噪音水平實(shí)現(xiàn)*的測量精度和重復(fù)性快反饋控制算法提供整個(gè)測試過程的控制專為各種不同測試而開發(fā)的一整套高性能傳感器

多達(dá)24個(gè)通道的數(shù)據(jù)采集能力，每個(gè)通道都能同時(shí)達(dá)到1.2MHz采樣率

多個(gè)測試頭的耦合——一整套傳感器適用于各種測試任務(wù)

任意兩個(gè)測頭之間無縫連接

標(biāo)配二維傳感器和nanoDMA III傳感器實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的多種測試功能和高性能

多種有效的測試模塊配置

納米壓痕：硬度，模量，蠕變，應(yīng)力弛豫，斷裂韌性、高速力學(xué)性能成像

納米摩擦：薄膜結(jié)合力，摩擦系數(shù)，抗劃擦性能，磨損

掃描探針顯微鏡成像：形貌和梯度成像，納米級別定位精度，摩擦

力成像動態(tài)納米壓痕：隨著深度連續(xù)測量硬度和模量，存儲模量，損失模量，損耗角正切

布魯克納米壓痕儀Ti 980，在納米力學(xué)測試上*一步

nanoDMA III：動態(tài)納米壓痕

布魯克的nanoDMA III是強(qiáng)大的動態(tài)納米壓痕技術(shù)。它提供了彈/塑性和粘彈性隨著壓入深度、頻率和時(shí)間的變化關(guān)系。

全面表征各種材料的普適性方法，從較軟的聚合物到硬質(zhì)鍍層都能適用；

集成直流和交流調(diào)制使得從初始接觸點(diǎn)開始就能實(shí)現(xiàn)納米尺度動態(tài)性能的可靠、定量表征；

原位參考頻率法校正溫漂使得長時(shí)間測試的精度大大提高。

XPM：快速力學(xué)性能成像

不論是測量分辨率和精度，還是測量速度，XPM都是納米力學(xué)測試的業(yè)界新。有了XPM，原來可能需要一整年才能獲得的數(shù)據(jù)，現(xiàn)在只需要一個(gè)下午就能獲得。這些*的性能是通過以下三個(gè)業(yè)界*的技術(shù)實(shí)現(xiàn)的。1）高帶寬靜電激勵(lì)傳感器；2）快速控制和數(shù)據(jù)采集電子系統(tǒng)；3）自上而下的原位掃描探針顯微鏡成像。這些技術(shù)聯(lián)用能實(shí)現(xiàn)每秒六次納米壓痕測試，從而獲得全面的定量納米力學(xué)性能圖譜以及性能分布的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。

更少時(shí)間測量更多參數(shù)

高速定量力學(xué)性能測量（每秒6次測量）快速、高分辨空間硬度和模量分布統(tǒng)計(jì)一分鐘內(nèi)可靠完成針尖函數(shù)自動校正；比傳統(tǒng)納米壓痕測試快500倍的數(shù)據(jù)采集速率 xSol 環(huán)境控制腔及載臺，可實(shí)現(xiàn)極端環(huán)境條件下高通量測量。

SPM⁺實(shí)現(xiàn)納米力學(xué)測試前后的準(zhǔn)確原位成像

布魯克*的掃描納米壓痕技術(shù)使用同一根探針實(shí)現(xiàn)樣品表面形貌成像和納米壓痕測試。這種方法實(shí)現(xiàn)了*的定位精度，并且可以在納米壓痕測試后立即對樣品塑性形變進(jìn)行成像，加快測試速度。

高定位精度（+/-10nm）——可以從64x64到4096x4096范圍內(nèi)設(shè)定掃描分辨率，可以對各種高長寬比的特征形貌進(jìn)行不同X-Y分辨率成像，業(yè)界*的納米力學(xué)性能成像分辨率和調(diào)色板，可以和摩擦力成像，nanoDMA III，nanoECR和xSol環(huán)境控制腔等聯(lián)用

強(qiáng)大的系統(tǒng)控制和分析

TriboScan 10：強(qiáng)大的測試靈活性提供了無限的測試可能性

將布魯克納米壓痕全套測試技術(shù)集成到一個(gè)直觀的軟件內(nèi)，基于標(biāo)簽頁架構(gòu)的軟件設(shè)計(jì)使得用戶可以方便的使用軟件功能，靈活的測試過程分段定義方法提供了適用于所有測試模式的優(yōu)異控制

TriboIQ: 可編程數(shù)據(jù)分析程序

易用的操作界面，從簡單到復(fù)雜的可定制數(shù)據(jù)分析包直觀的數(shù)據(jù)組織和分析流程，簡單點(diǎn)擊即可生成數(shù)據(jù)報(bào)告直觀可自定義的數(shù)據(jù)處理和分析模塊開放式架構(gòu)使得多用戶合作更加容易

海思創(chuàng)TI980升級選項(xiàng)